Номер на продукта на производителя:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
Производител:
Texas Instruments
Номер на част:
SN74BCT8373ANT-DG
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Подробно описание:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Инвентар:
1683754
Искане на оферта
Количество
Минимум 1
Минимум 1
(*) е задължително
Ще се свържем с вас в рамките на 24 часа
Ще се свържем с вас в рамките на 24 часа
ИЗПРАТИ
SN74BCT8373ANT Технически спецификации
Категория
Логика, Специализирана логика
Производител
Texas Instruments
Опаковане
-
Поредица
74BCT
Състояние на продукта
Obsolete
Логически тип
Scan Test Device with D-Type Latches
Захранващо напрежение
4.5V ~ 5.5V
Брой битове
8
Работна температура
0°C ~ 70°C
Тип монтаж
Through Hole
Опаковка / Калъф
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Пакет устройства на доставчика
24-PDIP
Основен номер на продукта
74BCT8373
Технически данни и документи
Технически данни
Допълнителна информация
Стандартен пакет
15
Други имена
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
Екологична и износна класификация
Състояние на RoHS
ROHS3 Compliant
Ниво на чувствителност към влага (MSL)
1 (Unlimited)
Състояние на REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Алтернативни модели
НОМЕР НА ЧАСТ
SN74BCT8373ADW
ПРОИЗВОДИТЕЛ
Texas Instruments
НАЛИЧНО КОЛИЧЕСТВО
0
Номер на част
SN74BCT8373ADW-DG
ЕДИНИЧНА ЦЕНА
9.11
Вид на замяна
MFR Recommended
Сертификация DIGI
Свързани продукти
SN74ABT8543DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ACT1284NSR
IC 7BIT BUS INTERFC 3ST 20SO
SN74LV161284DL
IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP
